多層瓷介電容器失效分析：工程師必須掌握的5個關(guān)鍵點

为什么看似完好的多层瓷介电容器会突然失效？

在高速电路设计中，多层瓷介电容器（MLCC）的失效往往导致整机性能下降甚至功能瘫痪。据统计，电子设备中约18%的早期故障与电容器失效直接相关（来源：国际电子制造商协会, 2022）。掌握失效分析的核心逻辑，已成为工程师提升系统稳定性的必修课。